产品详情
主要应用
- 可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。
主要特点
- 精确的微米级薄膜导热测量方法
- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）
- PicoTR遵循国际校准标准
技术参数
- 温度范围：RT，RT … 500°C（选配）
- 测量模式：RF/FF
- 样品尺寸：10×10 … 20×20mm
- 薄膜厚度：10nm … 900nm（取决于样品种类和测量模式）
- 热扩散系数：0.01 … 1000mm2/s
- 主激光：脉冲宽度0.5ps；光束直径45μm；激光功率20mW
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